journalㄩ2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
AuthorsㄩK. Morimoto; J. Iwata; M. Shinohara; H. Sekine; A. Abdelghafar; H. Tsuchiya; Y. Kuroda; K. Tojima; W. Endo; Y. Maehashi; Y. Ota; T. Sasago; S. Maekawa; S. Hikosaka; T. Kanou; A. Kato; T. Tezuka; S. Yoshizaki; T. Ogawa; K. Uehira; A. Ehara; F. Inui; Y. Matsuno; K. Sakurai; T. Ichikawa